[发明专利]度量FPGA软件静态质量的方法在审

专利信息
申请号: 201710405699.3 申请日: 2017-06-01
公开(公告)号: CN107341101A 公开(公告)日: 2017-11-10
发明(设计)人: 李晨阳;孙肖;陈晟飞;王静 申请(专利权)人: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开的一种度量FPGA软件静态质量的方法,旨在提供一种能够有效减少验证测试次数和量化软件代码静态测试质量方法,本发明通过下述技术方案予以实现,在包含VHDL和Verilog两种语言的FPGA软件中,筛选出体现软件质量价值的度量元,对FPGA软件度量元进行分类加权;选出体现覆盖面广且影响程度高的评价规则集,提取度量元相关加权系数,依据对质量影响的严重程度,确定评价度量元的数量,建立分析度量元和FPGA软件质量评价模型和规则集分类附录表;根据参考标准GJB 2423A的故障统计次数,计算出度量元缺陷总数A和度量元与规定的度量元比分,运用度量元缺陷总数计算公式和评价规则,给出度量评价结果。
搜索关键词: 度量 fpga 软件 静态 质量 方法
【主权项】:
一种度量FPGA软件静态质量的方法,其特征在于包括如下步骤,第1步,分析度量元:在包含VHDL和Verilog两种语言的FPGA软件中,分析评价违反的度量元组成类型,筛选出体现软件质量价值的度量元,设定度量元及其度量元加权系数,对FPGA软件度量元进行分类加权,并对软件代码质量影响大且与其它度量元相差大的则赋予较大的数值;第2步,度量元计算:根据对代码质量带来的影响程度分别对VHDL和Verilog语言选出体现覆盖面广且影响程度高的评价规则集,提取度量元相关加权系数,依据对质量影响的严重程度,按照度量元缺陷严重性等级的不同进行不同的加权比,确定评价度量元的数量,建立分析度量元和FPGA软件质量评价模型和FPGA软件规则集分类附录表;第3步,度量结果评价:根据参考标准GJB 2423A的故障统计次数,计算出度量元缺陷总数A和度量元与规定的度量元比分,提出度量计算公式、评价规则和评价流程,运用度量元缺陷总数计算公式和评价规则,给出度量评价结果,输出FPGA软件质量度量的分值和归一化处理的分值区间分布。
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