[发明专利]中子粉末衍射仪探测器零点标定方法在审
| 申请号： | 201710407455.9 | 申请日： | 2017-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN107247061A | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 张洁;夏元华;谢超美;张莹;庞蓓蓓;王云;潘建;孙光爱;李建;黄朝强 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人： | 翟长明,韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种中子粉末衍射仪探测器零点标定方法，所述的方法包括以下步骤使用中子粉末衍射仪快速测量中子衍射谱，用于估算衍射谱的本底坪区及衍射峰强度；使用中子粉末衍射仪测量标准粉末样品的大角度范围中子衍射谱；将每支探测器所测得的部分衍射谱数据分离出来，并将衍射谱数据的角度值减去对应探测器零点的估计初值后，单独保存成一个衍射谱数据文件；使用专业的衍射谱结构精修分析软件对每支探测器测得的部分衍射谱进行数据拟合分析，确定每支探测器的零点漂移量；每支探测器的估计初值减去对应的零点漂移量即可作为探测器零点。本发明的方法具有适应性广、准确度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 粉末 衍射 探测器 零点 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种中子粉末衍射仪探测器零点标定方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：使用中子粉末衍射仪快速测量中子衍射谱，用于估算衍射谱的本底坪区及衍射峰强度；使用中子粉末衍射仪测量标准粉末样品的大角度范围中子衍射谱；将每支探测器所测得的部分衍射谱数据分离出来，并将衍射谱数据的角度值减去对应探测器零点的估计初值后，单独保存成一个衍射谱数据文件；使用专业的衍射谱结构精修分析软件对每支探测器测得的部分衍射谱进行数据拟合分析，确定每支探测器的零点漂移量；每支探测器的估计初值减去对应的零点漂移量即可作为探测器零点。
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