[发明专利]一种简单有效地抑制荧光干扰的光调制反射光谱检测系统有效
| 申请号： | 201710411167.0 | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN107192675B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 王兴军;张斌;邱维阳;朱思新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 李秀兰 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种简单有效地抑制荧光干扰的光调制反射光谱检测系统。检测系统利用一个光学缩束器来减小反射光束直径和增强反射信号的强度，同时利用一个长焦透镜与可变光阑耦合来获取材料的光调制反射信号，有效地抑制了泵浦激光所激发的荧光信号对调制光谱的干扰，实现了对材料的真实光调制反射光谱的探测。本发明的优越性在于经济实用、简单易行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 简单 有效地 抑制 荧光 干扰 调制 反射 光谱 检测 系统 | ||
【主权项】：
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