[发明专利]检测器和具有该检测器的发射成像设备有效

专利信息
申请号: 201710414297.X 申请日: 2017-06-05
公开(公告)号: CN107121692B 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 谢思维;杨明明;翁凤花;赵指向;黄秋;许剑锋;彭旗宇 申请(专利权)人: 中派科技(深圳)有限责任公司
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202
代理公司: 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 代理人: 徐丁峰;付伟佳
地址: 518063 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种检测器和具有该检测器的发射成像设备。所述检测器包括闪烁晶体阵列、第一光传感器阵列以及第二光传感器阵列。闪烁晶体阵列包括多个闪烁晶体。第一光传感器阵列耦合至闪烁晶体阵列的第一端面,第一光传感器阵列的多个光传感器中的至少一个分别耦合有多个闪烁晶体。第二光传感器阵列耦合至闪烁晶体阵列的第二端面,第二光传感器阵列的多个光传感器中的至少一个分别耦合有多个闪烁晶体。其中,第一光传感器阵列与第二光传感器阵列错位排列。该检测器具备较高的DOI解码精度及位置解码能力。
搜索关键词: 检测器 具有 发射 成像 设备
【主权项】:
1.一种用于发射成像设备的检测器,其特征在于,包括:闪烁晶体阵列,其具有相对的第一端面和第二端面,所述闪烁晶体阵列包括多个闪烁晶体;第一光传感器阵列,其耦合至所述闪烁晶体阵列的所述第一端面,所述第一光传感器阵列包括多个光传感器,所述第一光传感器阵列的所述多个光传感器中的至少一个分别耦合有多个所述闪烁晶体;第二光传感器阵列,其耦合至所述闪烁晶体阵列的所述第二端面,所述第二光传感器阵列包括多个光传感器,所述第二光传感器阵列的所述多个光传感器中的至少一个分别耦合有多个所述闪烁晶体;其中,所述第一光传感器阵列与所述第二光传感器阵列错位排列;所述多个闪烁晶体的未与所述光传感器耦合的面均设置有光反射层,且所述面中与相邻的光传感器耦合的闪烁晶体相邻的面的光反射层中设置有透光窗口;所述第一光传感器阵列/所述第二光传感器阵列中位于中心区域的m1×m2个光传感器均耦合有n1×n2个闪烁晶体,其中m1、m2为正整数,n1和n2为大于等于2小于等于6的正整数,且n2大于等于n1;所述第一光传感器阵列相对所述第二光传感器阵列具有第一错位方向和第二错位方向,所述第一光传感器阵列在所述第一错位方向和所述第二错位方向上相对所述第二光传感器阵列分别错位M个闪烁晶体距离和N个闪烁晶体距离,其中M为小于等于n1/2的正整数,N为小于等于n2/2的正整数。
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