[发明专利]半导体器件的封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201710416795.8 申请日: 2017-06-06
公开(公告)号: CN107331625A 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 于大全 申请(专利权)人: 华天科技(昆山)电子有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L23/31;H01L25/07
代理公司: 昆山四方专利事务所32212 代理人: 李娜
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种半导体器件的封装结构及其制作方法,该封装结构包括含有功能面和与其相对的非功能面的芯片,芯片的功能面含有位于中部的功能区和位于四周的若干焊垫,还包括一可光刻的盖板,盖板正面与芯片的功能面之间通过围堰键合在一起,围堰环绕功能区。其中,围堰覆盖在功能区周边的焊垫上,盖板背面形成有贯穿盖板及围堰、并与芯片的焊垫电连接的导电结构。或者,围堰介于功能区和焊垫之间,焊垫通过金属引线或焊球与外界电连接。本发明盖板通过光刻形成,与围堰键合形成空腔,取代现有硅盖板或高阻硅盖板,可以省去硅晶圆的TSV工艺成本,可减少30%以上的制程周期,减少30%以上费用。
搜索关键词: 半导体器件 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体器件的封装结构,其特征在于,包括含有功能面和与其相对的非功能面的芯片,所述芯片的功能面含有位于中部的功能区和位于四周的若干焊垫,其特征在于:还包括一聚合物材料的盖板,所述盖板正面与所述芯片的功能面之间通过围堰键合在一起,所述围堰覆盖在所述功能区周边的焊垫上,所述盖板背面形成有贯穿盖板及围堰、并与所述芯片的焊垫电连接的导电结构;或者,所述围堰介于所述功能区和所述焊垫之间,所述焊垫通过金属引线或焊球与外界电连接。
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