[发明专利]半导体器件的封装结构及其制作方法在审
申请号: | 201710416795.8 | 申请日: | 2017-06-06 |
公开(公告)号: | CN107331625A | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 于大全 | 申请(专利权)人: | 华天科技(昆山)电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31;H01L25/07 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所32212 | 代理人: | 李娜 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体器件的封装结构及其制作方法,该封装结构包括含有功能面和与其相对的非功能面的芯片,芯片的功能面含有位于中部的功能区和位于四周的若干焊垫,还包括一可光刻的盖板,盖板正面与芯片的功能面之间通过围堰键合在一起,围堰环绕功能区。其中,围堰覆盖在功能区周边的焊垫上,盖板背面形成有贯穿盖板及围堰、并与芯片的焊垫电连接的导电结构。或者,围堰介于功能区和焊垫之间,焊垫通过金属引线或焊球与外界电连接。本发明盖板通过光刻形成,与围堰键合形成空腔,取代现有硅盖板或高阻硅盖板,可以省去硅晶圆的TSV工艺成本,可减少30%以上的制程周期,减少30%以上费用。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 封装 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的封装结构,其特征在于,包括含有功能面和与其相对的非功能面的芯片,所述芯片的功能面含有位于中部的功能区和位于四周的若干焊垫,其特征在于:还包括一聚合物材料的盖板,所述盖板正面与所述芯片的功能面之间通过围堰键合在一起,所述围堰覆盖在所述功能区周边的焊垫上,所述盖板背面形成有贯穿盖板及围堰、并与所述芯片的焊垫电连接的导电结构;或者,所述围堰介于所述功能区和所述焊垫之间,所述焊垫通过金属引线或焊球与外界电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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