[发明专利]缺陷检查方法及其设备有效
| 申请号： | 201710421637.1 | 申请日： | 2017-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN107490579B | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 松本淳一 | 申请（专利权）人： | 本田技研工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王小东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及缺陷检查方法及其设备。将细长光(L)照明到待拍摄对象(20)(例如，汽车车身)上，以得到源图像。接下来，对源图像执行最大值过滤处理和最小值过滤处理中的任一个，由此得到第一过滤处理后图像。此外，在通过相对于第一过滤处理后图像执行最小值过滤处理和最大值过滤处理中的剩余一个来得到第二过滤处理后图像之后，确定第二过滤处理后图像和源图像之间的差异，并且得到差异图像。此后，相对于差异图像实施二值化处理。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检查 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
一种缺陷检查方法，所述缺陷检查方法通过相对于待拍摄对象(20)照射条纹照明(L)并且基于得自所述待拍摄对象(20)的图像来检查在所述待拍摄对象(20)上是否存在缺陷，所述缺陷检查方法包括以下步骤：从条纹照明照射单元(14)在所述待拍摄对象(20)上照射条纹照明(L)；用图像捕获单元(40)来拍摄用所述条纹照明(L)照射的所述待拍摄对象(20)，并且得到源图像；通过第一过滤处理来得到第一过滤处理后图像，所述第一过滤处理相对于所述源图像执行最大值过滤处理和最小值过滤处理中的任一个；通过第二过滤处理来得到第二过滤处理后图像，所述第二过滤处理相对于所述第一过滤处理后图像执行所述最小值过滤处理和所述最大值过滤处理中的剩余一个；使用所述第二过滤处理后图像作为背景图像来得到差异图像，在所述差异图像中确定了与所述源图像的差异；以及相对于所述差异图像执行二值化处理，并且得到二值化图像，以便确定在成像范围内是否存在缺陷。
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