[发明专利]一种中子和γ射线综合屏蔽填料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710423117.4 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107215879A 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 何林;李强;雷洪波;蔡永军;刘向东;龙亮;甘杰;杨华;晏朝晖 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院材料研究所
主分类号: C01B35/04 分类号: C01B35/04;C08K3/38;G21F1/10
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 代理人: 沈强
地址: 621700 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种中子和γ射线综合屏蔽填料及其制备方法,属于屏蔽材料领域,目的在于解决现有的中子和γ射线综合屏蔽材料,无法从根本上解决屏蔽组元间的密度差异问题,影响材料综合屏蔽性能的提高,尤其是材料的γ射线屏蔽性能较差的问题。该填料由W和B组成,W和B的原子计量比为2︰1,其物相组成为W2B。本发明提供一种新的制备方法,通过对反应条件的控制,使得所制备屏蔽填料的密度均一性好,能够显著提升屏蔽填料的屏蔽性能,具有重要的进步意义。
搜索关键词: 一种 中子 射线 综合 屏蔽 填料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种中子和γ射线综合屏蔽填料,其特征在于,该填料由W和B组成,W和B的原子计量比为2︰1,其物相组成为W2B。
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