[发明专利]半导体装置以及半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201710426030.2 申请日: 2017-06-08
公开(公告)号: CN107492557B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 花田明纮;渊正芳 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L27/32;H01L21/77
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种半导体装置,具备:绝缘基板;第1半导体层,位于绝缘基板的上方;第2半导体层,位于绝缘基板的上方,由与第1半导体层不同的物质形成;绝缘层,位于绝缘基板的上方,覆盖第1半导体层与第2半导体层,并形成有贯通至第1半导体层的第1接触孔与贯通至第2半导体层的第2接触孔;阻挡层,覆盖第1接触孔内的第1半导体层与上述第2接触孔内的第2半导体层中的某一方,并具有导电性;以及第1导电层,与阻挡层接触。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置,具备:绝缘基板;第1半导体层,位于上述绝缘基板的上方;第2半导体层,位于上述绝缘基板的上方,由与上述第1半导体层不同的物质形成;绝缘层,位于上述绝缘基板的上方,覆盖上述第1半导体层和上述第2半导体层,并形成有贯通至上述第1半导体层的第1接触孔和贯通至上述第2半导体层的第2接触孔;阻挡层,将上述第1接触孔内的上述第1半导体层和上述第2接触孔内的上述第2半导体层中的某一方覆盖,并具有导电性;以及第1导电层,与上述阻挡层接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日本显示器,未经株式会社日本显示器许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710426030.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top