[发明专利]半导体封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201710430483.2 申请日: 2017-06-09
公开(公告)号: CN109037164A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 许诗滨;许哲玮 申请(专利权)人: 恒劲科技股份有限公司
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 代理人: 郑玉洁
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种半导体封装结构及其制作方法,其包括载板、芯片、凸块、封装层与热膨胀匹配层。芯片位于载板的上表面上。凸块用以电性连接芯片与载板的内连接端。封装层用以包覆凸块、芯片及载板的上表面。热膨胀匹配层覆盖于封装层的整个上表面,并暴露出封装层的侧面,其中,热膨胀匹配层的热膨胀系数与封装层的热膨胀系数不同,且热膨胀匹配层的边缘与封装层的边缘齐平。借由热膨胀匹配层产生整体平衡效果,而减少板翘问题。
搜索关键词: 封装层 热膨胀匹配层 载板 上表面 凸块 半导体封装结构 热膨胀系数 芯片 电性连接芯片 边缘齐平 内连接端 整体平衡 减少板 包覆 制作 侧面 暴露 覆盖
【主权项】:
1.一种半导体封装结构,其特征在于,包括:一载板,具有一上表面及一下表面,该载板包括多个内连接端与多个外连接端,这些内连接端与这些外连接端分别位于该载板的该上表面与该下表面上;一芯片,位于该载板的该上表面上;多个凸块,用以电性连接该芯片及该载板的这些内连接端;一封装层,用以包覆这些凸块、该芯片及该载板的该上表面,该封装层具有一上表面与至少一侧面;以及一热膨胀匹配层,覆盖于该封装层的整个上表面,并暴露出该封装层的该至少一侧面,其中,该热膨胀匹配层的热膨胀系数与该封装层的热膨胀系数不同,且该热膨胀匹配层的边缘与该封装层的边缘齐平。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恒劲科技股份有限公司,未经恒劲科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710430483.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top