[发明专利]一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法有效
| 申请号： | 201710433705.6 | 申请日： | 2017-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN107239768B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 谷延锋;谭苏灵 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 | 代理人： | 岳昕 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法，本发明涉及高光谱图像目标检测方法。本发明的目的是为了解决现有高光谱图像目标检测方法中未充分考虑在高分条件下空间约束增强的特性，不能从三维数据整体进行信息挖掘，检测精度低的问题。过程为：一：获得三阶目标、三阶背景和待检测的三阶测试样本张量块；二：获得目标、背景和待检测的测试样本三个维度上的投影矩阵；三：将目标、背景和待检测的测试样本投影到预设的张量子空间中；四：计算每一个待检测的测试样本到背景和目标模板的总距离；五：将距离的比值作为灰度值，如果灰度值大于阈值，则确定该中心点的像元为目标，否则认为该中心点的像元为背景。本发明用于图像处理领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 张量 成分 分析 光谱 图像 目标 检测 方法 | ||
【主权项】：
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