[发明专利]用于测量表面瞬态温度的片状薄膜热电偶测温系统及应用在审

专利信息
申请号: 201710441262.5 申请日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN107101735A 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 李振伟;朱熙;王晶;周艳;刘畅;侯亚琴;高庆华 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01K1/08 分类号: G01K1/08;G01K1/14;G01K1/02;G01K7/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于测量表面瞬态温度的片状薄膜热电偶,包括片状高温陶瓷基体、薄膜热电极、薄膜绝缘层及引线,采用等离子体溅射在陶瓷基体上制备薄膜热电极,薄膜热电极之间设置热接点,即为测量端;热电极上覆盖薄膜绝缘层。本发明的片状薄膜热电偶可用于1000℃以上环境的特殊构型物件表面温度测量。
搜索关键词: 用于 测量 表面 瞬态 温度 片状 薄膜 热电偶 测温 系统 应用
【主权项】:
用于测量表面瞬态温度的片状薄膜热电偶,包括热电偶整体结构及绝缘保护层结构,其中,热电偶整体结构包括陶瓷基体,在陶瓷基体上并列镀覆铂铑30薄膜热电极和铂铑6薄膜热电极,两个热电极一侧通过热结点电连接,并列的铂铑30薄膜热电极和铂铑6薄膜热电极另一侧分别对应通过铂铑30焊盘、铂铑6焊盘焊接铂铑30引出导线和铂铑6引出导线,其中,通过等离子体溅射方式将铂铑30薄膜热电极、铂铑6薄膜热电极镀在陶瓷基体上,绝缘保护层采用导热系数相对较高的A1203材料,在陶瓷基体上完成薄膜热电极镀膜后,将A1203采用镀膜的形式镀在有薄膜热电极的陶瓷基体表面。
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