[发明专利]具有NVM结构的集成电路及其制造方法有效
申请号: | 201710443168.3 | 申请日: | 2017-06-13 |
公开(公告)号: | CN107564912B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 蔡明苍;林启荣;郭克文 | 申请(专利权)人: | 新加坡商格罗方德半导体私人有限公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 新加坡,*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及具有NVM结构的集成电路及其制造方法,提供的是集成电路、非易失性存储器(NVM)结构、以及具有NVM结构的集成电路的制造方法。例示性集成电路包括衬底及上覆于此衬底的双位NVM结构。双位NVM结构包括衬底上方平行横向延展的主要、第一相邻与第二相邻鳍形结构。主要鳍形结构包括源极、沟道与漏极区。各相邻鳍形结构包括编程/擦除栅极。双位NVM结构更包括定位于主要鳍形结构的沟道区与第一相邻鳍形结构之间的第一浮动栅极、以及定位于主要鳍形结构的沟道区与第二相邻鳍形结构之间的第二浮动栅极。此外,双位NVM结构包括相邻主要鳍形结构的控制栅极。 | ||
搜索关键词: | 具有 nvm 结构 集成电路 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路,其包含:衬底;以及双位非易失性存储器(NVM)结构,其上覆于该衬底并且包括:于该衬底上方平行延展的主要鳍形结构、第一相邻鳍形结构及第二相邻鳍形结构,其中,该主要鳍形结构包括源极区、沟道区及漏极区,其中,该第一相邻鳍形结构包括第一编程/擦除栅极,以及其中,该第二相邻鳍形结构包括第二编程/擦除栅极;定位于该主要鳍形结构的该沟道区与该第一相邻鳍形结构之间的第一浮动栅极;定位于该主要鳍形结构的该沟道区与该第二相邻鳍形结构之间的第二浮动栅极;以及相邻该主要鳍形结构的控制栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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