[发明专利]一种基于ATE射频CP测试的校准方法在审
| 申请号： | 201710444970.4 | 申请日： | 2017-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN107247225A | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 邓维维;张志勇;王华;钭晓鸥;罗斌 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所31301 | 代理人： | 范海燕 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国（*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE射频CP测试的校准方法，在射频芯片流片时，在圆片上制作辅助去嵌结构作为标准件。辅助去嵌结构包含三种结构开路(open)，短路(short)，传输线(thru)。去嵌结构要求对应于被测器件的射频管脚的位置；本发明提供的基于ATE射频CP测试的校准技术，通过辅助去嵌结构，使得在射频产品的CP测试过程中消除测试系统阻抗不匹配带来的测试误差。从而能够获得更准确的测试结果，最终提高测试良率，节约测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate 射频 cp 测试 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种基于ATE射频CP测试的校准方法，其特征在于：在射频芯片流片时，在圆片上制作辅助去嵌结构作为标准件。
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