[发明专利]一种测量铜箔瓶颈宽度和电流的方法在审
| 申请号： | 201710457434.8 | 申请日： | 2017-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN107300371A | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 毛晓彤 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02;G01R19/00;G06F17/50 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司37205 | 代理人： | 张亮 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种测量铜箔瓶颈宽度和电流的方法，其特征在于，包括如下步骤步骤S1）选择当前需要测量的铜箔；步骤S2）确定待测铜箔的类型；步骤S3）计算待测铜箔的宽度；步骤S4）根据步骤S2确定的待测铜箔类型，确定并输入电流值与该类型铜箔的换算数据；步骤S5）根据步骤S3中计算的铜箔宽度，计算出待测铜箔的电流值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 铜箔 瓶颈 宽度 电流 方法 | ||
【主权项】：
一种测量铜箔瓶颈宽度和电流的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1）：选择当前需要测量的铜箔，并读取铜箔参数；步骤S2）：根据步骤S1中读取的铜箔参数，确定待测铜箔的类型；步骤S3）：计算待测铜箔的瓶颈宽度；步骤S4）：根据步骤S2确定的待测铜箔类型，确定并输入电流值与该类型铜箔的换算数据；步骤S5）：根据步骤S3中计算的铜箔瓶颈宽度 ，计算出待测铜箔的电流值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郑州云海信息技术有限公司，未经郑州云海信息技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710457434.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
