[发明专利]一种121.6nm窄带负滤光片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710481581.9 申请日: 2017-06-22
公开(公告)号: CN107037521B 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 王孝东;陈波;王海峰;郑鑫 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20;G02B5/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 本申请公开了一种121.6nm窄带负滤光片及其制备方法,该方法包括:确定制备121.6nm窄带负滤光片时所需的多层膜的镀膜材料以及相应的基础膜系结构;基于镀膜材料以及基础膜系结构,计算相应的等效导纳以及位相厚度;根据等效导纳以及位相厚度,依次在多层膜与入射介质之间、以及多层膜与基底之间分别进行导纳匹配处理,以对基础膜系结构进行优化,得到优化后膜系结构;根据优化后膜系结构,制备相应的121.6nm窄带负滤光片。本申请可消除由于多层膜与入射介质、基底之间导纳不匹配而使得旁带和可见光波段具有高反射率的现象,而基于上述经过优化处理的膜系结构制备得到的121.6nm负滤光片具有较低的旁带以及可见光波段的反射率,从而有利于提升121.6nm谱线的质量。
搜索关键词: 一种 121.6 nm 窄带 滤光 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种121.6nm窄带负滤光片制备方法,其特征在于,包括:确定制备121.6nm窄带负滤光片时所需的多层膜的镀膜材料以及相应的基础膜系结构;其中,所述基础膜系结构为sub/(0.7H0.6L0.7H)^11/air;基于所述镀膜材料以及所述基础膜系结构,计算相应的等效导纳以及位相厚度;根据所述等效导纳以及位相厚度,依次在多层膜与入射介质之间、以及多层膜与基底之间分别进行导纳匹配处理,以对所述基础膜系结构进行优化,得到优化后膜系结构;根据所述优化后膜系结构,制备相应的121.6nm窄带负滤光片。
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