[发明专利]薄膜晶体管输出特性模型修正方法有效

专利信息
申请号: 201710485895.6 申请日: 2017-06-23
公开(公告)号: CN107391802B 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 王明湘;韩志远 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 冯瑞
地址: 215000 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明具体涉及一种薄膜晶体管输出特性模型修正方法,为了提供一种同一拟合常数适合于多个不同栅极电压Vgs条件下的输出特性而设计。本发明薄膜晶体管输出特性模型修正方法包括:确定适用于薄膜晶体管一组不同栅极电压Vgs条件下输出特性的同一拟合常数α;采用如下修正公式确定修正后的漏极电流,其中,Vdeff为有效漏极电压,Vdeff=VD‑Vdsat,VD为漏极电压,Vdsat为过饱和电压;Id为线性区的未加修正的漏极电流。本发明薄膜晶体管电流模型对器件特性的预测更加精确。
搜索关键词: 薄膜晶体管 输出 特性 模型 修正 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管输出特性模型修正方法,当薄膜晶体管工作在饱和区时,对漏极电流进行修正,其特征在于,所述方法具体包括:通过将模型计算数据和实验测量数据进行拟合,以确定适用于薄膜晶体管一组不同栅极电压Vgs条件下输出特性的同一拟合常数α;采用如下修正公式确定修正后的漏极电流,Id*=(1+αVgsVdeff)Id]]>其中,Vdeff为有效漏极电压,Vdeff=VD‑Vdsat,VD为漏极电压,Vdsat为过饱和电压;Id为适用于线性区的未加修正的漏极电流模型所求得的电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州大学,未经苏州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710485895.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top