[发明专利]薄膜晶体管输出特性模型修正方法有效
申请号: | 201710485895.6 | 申请日: | 2017-06-23 |
公开(公告)号: | CN107391802B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 王明湘;韩志远 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 冯瑞 |
地址: | 215000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明具体涉及一种薄膜晶体管输出特性模型修正方法,为了提供一种同一拟合常数适合于多个不同栅极电压V |
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搜索关键词: | 薄膜晶体管 输出 特性 模型 修正 方法 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管输出特性模型修正方法,当薄膜晶体管工作在饱和区时,对漏极电流进行修正,其特征在于,所述方法具体包括:通过将模型计算数据和实验测量数据进行拟合,以确定适用于薄膜晶体管一组不同栅极电压Vgs条件下输出特性的同一拟合常数α;采用如下修正公式确定修正后的漏极电流,Id*=(1+αVgsVdeff)Id]]>其中,Vdeff为有效漏极电压,Vdeff=VD‑Vdsat,VD为漏极电压,Vdsat为过饱和电压;Id为适用于线性区的未加修正的漏极电流模型所求得的电流。
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