[发明专利]一种识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法

摘要

本发明公开了一种识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法，包括以下步骤：将QFN引线框架上的产品进行排列；在单颗产品芯片基座蚀刻点的排列矩阵；分别获取单颗产品在框架上面的位置信息与单颗产品芯片基座蚀刻点矩阵位置信息，将分别获取的两种位置信息相对应，然后取消单颗产品在芯片基座相对应位置的蚀刻点；检查单颗产品芯片基座点的排列矩阵，获取检查结果，即得单颗产品在QFN框架上面的位置。本发明可以实现对有特殊产品位置要求的实验，主要解决了单颗产品无法做到ID识别和无法满足生产过程中的共性或规律性需求的使用问题，提升了QFN产品在制造过程中的可追溯性，其操作简单、成本低，值得推广。

主权项

一种识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将QFN引线框架上的QFN产品进行排列，对每个QFN产品定义一个单颗排列矩阵，同一QFN引线框架上的不同QFN产品的单颗排列矩阵不同；S2：在单颗QFN产品的芯片基座增加蚀刻的点，得到蚀刻的点的排列矩阵，且蚀刻的点的排列矩阵与步骤S1中单颗FNQ产品的单颗排列矩阵相对应；S3：分别获取步骤S1中单颗QFN产品在引线框架上单颗排列矩阵的位置信息与步骤S2中单颗QFN产品芯片基座增加蚀刻的点的排列矩阵的位置信息，将分别获取的两种位置信息相对应；然后取消待识别的单颗QFN产品在芯片基座相对应位置的蚀刻点；S4：检查单颗QFN产品在芯片基座增加蚀刻的点的排列矩阵，获取检查结果，获取单颗QFN产品芯片基座增加蚀刻的点的排列矩阵中缺少的蚀刻点的位置信息，并将所述缺少的蚀刻点的位置信息与QFN框架上的单颗QFN产品的位置信息相对应，得到单颗QFN产品在QFN框架上面的位置。