[发明专利]基于硬件白盒测试的电子类产品性能评估方法及装置在审
| 申请号： | 201710499613.8 | 申请日： | 2017-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN109145331A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 匡芬;汪旭;潘宇雄;陈旭鸿;杜绍华;尹超;王磊;易君谓;刘海洋;邓洲洋 | 申请（专利权）人： | 中车株洲电力机车研究所有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G01R31/02 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清;胡君 |
| 地址： | 412001 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于硬件白盒测试的电子类产品性能评估方法及装置，该方法步骤包括：S1.获取目标产品处于不同运行阶段的多个产品样本作为测试样本；S2.分别对各测试样本按照预先确定的测试项目执行硬件白盒测试，得到多个测试波形及性能参数数据；S3.根据得到的各测试波形评估目标产品的运行状态，以及从得到的各性能参数数据中识别出所有退化参数，根据识别出的退化参数评估目标产品的寿命；该装置包括测试样本获取模块、硬件白盒测试模块以及产品性能评估模块。本发明能够全面评估产品的性能，且具有实现方法简单、评估精度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 白盒测试 测试样本 性能参数数据 电子类产品 测试波形 评估目标 退化参数 性能评估 测试项目 产品性能 产品样本 获取模块 获取目标 评估模块 全面评估 预先确定 运行阶段 运行状态 评估 | ||
【主权项】：
1.一种基于硬件白盒测试的电子类产品性能评估方法，其特征在于，步骤包括：S1.测试样本获取：获取目标产品处于不同运行阶段的多个产品样本作为测试样本；S2.硬件白盒测试：分别对各所述测试样本按照预先确定的测试项目执行硬件白盒测试，得到多个测试波形及性能参数数据；S3.产品性能评估：根据得到的各测试波形、性能参数数据评估目标产品的运行状态，以及根据各性能参数数据识别各性能参数是否为退化参数，并由识别出的退化参数评估目标产品的寿命。
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