[发明专利]用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法

摘要

本发明涉及一种用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其解决了化学发光免疫检测领域现有的四参数拟合算法参数调教困难、回算精度低，对于不同浓度数量级跨度的主曲线通用性差的技术问题，其首先获取输入的待拟合点，然后采用样条插值算法进行拟合，保存系数用以回算浓度。本发明广泛用于化学发光免疫检测技术领域。

主权项

一种用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，获取m组标定数据(xi,yi)，i＝1,2,3…m，xi表示标准样本的浓度值，yi表示光信号值；步骤2，建立数学模型表达式如下：u(x)=Σj=0najxj---(1)]]>令上述公式(1)中的aj组成向量A，A＝[a0 a1 ... an]T则A可由下式计算得到：A＝S‑1B   (2)公式(2)中，S=s1s2...sns2s3...sn+1............snsn+1...s2n-1---(3)]]>B＝[b1 b2 ... bn]T   (4)上述公式(3)中，上述公式(4)中，。