[发明专利]材料性能测试装置及制作方法有效

专利信息
申请号: 201710509495.4 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107144528B 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: 李松杉 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 钟子敏
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种材料性能测试装置,该装置包括:基板、金属栅极;辅助层,设置于金属栅极上,金属栅极位于基板与辅助层之间;功能层,设置在基板上,功能层在形成过程中,有机光阻至少有一段时间附着在辅助层上,功能层供以配合发光器件检测材料性能。本发明还提供一种材料性能测试装置的制作方法。通过上述方式,本发明在辅助层上沉淀的有机光阻膜均匀,使得在曝光显影后得到理想的功能层,进而保证材料性能测试装置的测试效果。
搜索关键词: 材料 性能 测试 装置 制作方法
【主权项】:
1.一种材料性能测试装置,用于测试材料的性能,其特征在于,包括:基板;金属栅极,设置于所述基板一侧;辅助层,设置于所述金属栅极背对所述基板一侧;功能层,包括有机光阻材料,设置在所述基板的具有所述金属栅极的一侧,所述功能层在形成过程中,所述有机光阻至少有一段时间附着在所述辅助层上,且有机光阻在辅助层上的附着力较在金属栅极上更强,所述功能层用于配合发光器件检测材料的性能;阳极层、被测材料层、发光材料层及阴极层,其中所述阳极层与所述金属栅极电连接,所述被测材料层位于所述阳极层和所述阴极层之间,并与所述阳极层和所述阴极层之间构成空腔,供以设置发光材料层,所述发光材料层容置在所述空腔中并与所述被测材料层抵接。
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