[发明专利]勘测装置、高度测量系统和用于测量高度的方法有效

专利信息
申请号: 201710513055.6 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN107560594B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 海因茨·伯恩哈德;J·辛德林;A·特拉伯 申请(专利权)人: 莱卡地球系统公开股份有限公司
主分类号: G01C3/20 分类号: G01C3/20;G01C3/32
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;杨薇
地址: 瑞士海*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 勘测装置、高度测量系统和用于测量高度的方法。包括高度测量系统的勘测装置和用于测量高度的方法。一种用于确定目标点的位置的勘测装置(1),包括:用于朝向目标点定向勘测装置(1)的目标轴线的装置;角度测量功能,用于检测目标轴线的定向;以及用于数据存储的评估装置。高度测量系统用于确定勘测装置(1)在地面(30)上方的高度,包括至少一个激光垂准器(41);和检测单元(42),包括用于检测激光束(43)的扩散向后散射的线传感器(48),并且基于线传感器(48)上的扩散向后散射的位置来设计。本发明还涉及用于勘测装置(1)的这种高度测量系统和用于测量勘测装置(1)的高度的方法。
搜索关键词: 勘测 装置 高度 测量 系统 用于 方法
【主权项】:
一种用于确定目标点的位置的勘测装置(1),该勘测装置包括:·用于朝向所述目标点定向所述勘测装置(1)的目标轴线的装置,·角度测量功能,该角度测量功能用于所述目标轴线的所述定向的高精确检测,以及·用于数据存储的评估装置,所述勘测装置(1)的特征在于:高度测量系统(40),该高度测量系统(40)用于借助于三角测量确定在地面(30)上方的所述勘测装置(1)的高度,其中,所述高度测量系统(40)包括:·激光垂准器(41),该激光垂准器(41)用于将激光束(43)沿着所述勘测装置(1)的竖轴线(7)发射到地面点(3)上,具体地该激光束为准直激光束,和·检测单元(42),该检测单元(42)包括用于检测所述激光束(43)的扩散向后散射的线传感器(48),其中,所述高度测量系统(40)被设计为基于所述线传感器(48)上的所述扩散向后散射的位置来确定在所述地面点(3)上方的所述勘测装置(1)的高度(h)。
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