[发明专利]液晶显示面板的检测电路结构与液晶显示面板有效

专利信息
申请号: 201710523393.8 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN107093391B 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 夏青;柴立 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种液晶显示面板的检测电路结构与液晶显示面板,检测电路结构包括第一引线层,其具有多条信号引线;以及第二引线层,其具有与所述多条信号引线分别对应的多条测试引线;其中,在所述多条测试引线中,至少两条测试引线的第一端分别通过选通单元与其对应的信号引线相连接,其余测试引线的第一端分别与其对应的信号引线相连接;各测试引线的第二端均与用于输入测试信号的检测端子相连接;当与该选通单元连接的测试引线传输测试信号时被开启,以使所述测试引线与对应的信号引线电性连接。该检测电路结构解决了由于ESD静电释放而导致的HVA配向出现配向异常的问题,避免了阵列测试制程对HVA配向制程的影响,节约了制造成本。
搜索关键词: 液晶显示 面板 检测 电路 结构
【主权项】:
一种液晶显示面板的检测电路结构,包括:第一引线层,其具有多条信号引线;以及第二引线层,其具有与所述多条信号引线分别对应的多条测试引线;其中,在所述多条测试引线中,至少两条测试引线的第一端分别通过选通单元与其对应的信号引线相连接,其余测试引线的第一端分别与其对应的信号引线相连接;各测试引线的第二端均与用于输入测试信号的检测端子相连接;所述选通单元被配置为:当与该选通单元连接的测试引线传输测试信号时被开启,以使所述测试引线与对应的信号引线电性连接。
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