[发明专利]有源相控阵天线阵面可靠性试验方法

摘要

本发明涉及雷达测试技术领域，具体提供了一种有源相控阵天线阵面可靠性试验方法，首先根据原天线阵面的阵元总数及正常工作阵元个数确定原天线阵面的失效率，然后确定替代阵面的规模，再确定替代阵面故障判据，当替代阵面中正常工作阵元个数小于设定值时判定阵面失效，最后确定天线阵面替代试验方法，正常工作阵元个数小于该设定值时，判定替代阵面失效；该试验方法采用冗余系统可靠性指标计算的方法，可实现用部分阵元代替全阵面等效参试并对可靠性指标进行验证，处理流程简单、易于实现，可依据不同试验要求灵活调整该方法。

主权项

一种有源相控阵天线阵面可靠性试验方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，设天线全阵面由n个有源辐射阵元组成，当正常工作阵元个数小于k时，判定天线全阵面失效，k为所述天线全阵面正常工作阵元个数的最小值，所述天线全阵面的可靠性模型为冗余系统中的k/n表决模型，所述天线全阵面中单个阵元的故障率服从指数分布，所述天线全阵面的平均故障前时间MTTFs通过下述公式(1)获得：MTTFs=1λΣx=kn1x---(1);]]>其中λ为单个有源辐射阵元的故障率；步骤二，确定替代阵面的有源辐射阵元的数量；步骤三，算出所述替代阵面阵元数量和所述天线全阵面阵元数量之比α，则步骤二中确定的替代阵面的有源辐射阵元的数量为α*n，当所述替代阵面中正常工作阵元个数小于k＇时判定阵面失效，其中k＇为所述替代阵面正常工作阵元个数的最小值，所述替代阵面的可靠性模型为冗余系统中的k＇/(α*n)表决模型，所述替代阵面的平均故障前时间MTTF′s为：MTTFs′=1λΣx=k′α·n1x]]>根据公式(2)确定k＇的最小整数值，MTTF′s≤MTTFs   (2)；步骤四，用阵元总数为α*n的替代阵面代替天线全阵面参与试验，当替代阵面的正常工作阵元个数小于k＇时，判定替代阵面失效，根据可靠性试验，当失效次数不超过允许次数时，判定试验通过，可以得出天线全阵面满足可靠性要求的结论。