[发明专利]存储设备、用于测试该存储设备的测试系统及方法在审
| 申请号： | 201710530193.5 | 申请日： | 2017-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN107688516A | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 王圭悅 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 吴晓兵 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 实施例包括一种测试系统的方法，该测试系统包括主机设备和至少一个存储设备，所述至少一个存储设备的多个端口通过多端口连接而连接到主机设备，所述方法包括在主机设备处由测试程序发出第一命令；在主机设备处由设备驱动器响应于第一命令而产生多个第二命令；以及由主机设备将所述多个第二命令同时传送到所述至少一个存储设备中的每个存储设备。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 用于 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试系统的方法，所述测试系统包括主机设备和至少一个存储设备，所述至少一个存储设备的多个端口通过多端口连接而连接到主机设备，所述方法包括：在主机设备处由测试程序发出第一命令；在主机设备处由设备驱动器响应于第一命令而产生多个第二命令；以及由主机设备将所述多个第二命令同时传送到所述至少一个存储设备中的每个存储设备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710530193.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：调度处理器的方法及设备
- 下一篇：软件测试方法及装置
