[发明专利]一种降低碳基导电膜体积电阻率的方法及其装置在审
申请号: | 201710536492.X | 申请日: | 2017-06-27 |
公开(公告)号: | CN107545958A | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | 张朋;孙静;刘舒;魏志凯;瞿美臻 | 申请(专利权)人: | 中国科学院成都有机化学有限公司 |
主分类号: | H01B13/00 | 分类号: | H01B13/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种降低碳基导电膜体积电阻率的方法及其装置,该方法是通过对导电膜施加高于通常使用电压后可以产生高于通常的工作温度的温度来对导电膜自身进行焦耳热处理,在此过程中碳基导电膜的体积电阻率可以得到有效的降低。该方法步骤如下a)将碳基导电膜接入焦耳热处理装置;b)施加稳定的电压或者改变电压保持稳定的焦耳热处理温度进行处理;c)冷却导电膜。该方法涉及一套特别的通电焦耳热处理装置,包括可调节稳压电源、导线、夹持电极、电压电流检测装置以及温度监测装置。通电焦耳热处理方法与外部传热处理方法相比较优势在于易于操作、方便控制、耗时短而效果明显,同时扩大了热处理的适用范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 降低 导电 体积 电阻率 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种降低碳基导电膜体积电阻率的方法,其特征在于:所述降低碳基导电膜体积电阻率的方法是对导电膜进行焦耳热处理,即对碳基导电膜施加超出其通常使用电压时导电膜产生高于其通常工作温度的温度来对导电膜本身进行焦耳热处理的过程。
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