[发明专利]测试系统有效
| 申请号： | 201710536672.8 | 申请日： | 2017-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN107340467B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 许江波;王鹏 | 申请（专利权）人： | 北京兆芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/319 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 叶齐峰 |
| 地址： | 100084 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试系统。所述测试系统包括电路板以及电子装置。所述电路板包括待测装置、联合测试(JTAG)接口，以及扫描链电路。扫描链电路包含多个扫描链，且耦接至待测装置以及联合测试接口，其中每一扫描链包括多个扫描D型触发器。电子装置耦接联合测试行动小接口，以对待测装置进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种测试系统，兼容联合测试模式和集成电路自动测试模式，包括：/n处理器；以及/n电路板，包括集成电路自动测试系统接口，联合测试接口和扫描链电路，/n其中，当所述测试系统处于联合测试模式，所述扫描链电路经由所述联合测试接口自所述处理器获得第一数据，扫描待测集成电路以产生第二数据，并且经由所述联合测试接口向所述处理器输出第三数据；/n当所述测试系统处于集成电路自动测试模式，所述扫描链电路经由所述集成电路自动测试系统接口自集成电路自动测试机获得第四数据，扫描待测集成电路以产生所述第二数据，并且经由所述集成电路自动测试系统接口向所述集成电路自动测试机输出所述第二数据。/n
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