[发明专利]相控阵天线的近场校准测试方法及装置在审
| 申请号： | 201710548793.4 | 申请日： | 2017-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN107317639A | 公开（公告）日： | 2017-11-03 |
| 发明（设计）人： | 苏道一 | 申请（专利权）人： | 广东曼克维通信科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/12 | 分类号： | H04B17/12 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 黄隶凡 |
| 地址： | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种相控阵天线的近场校准测试方法及装置，所述相控阵天线的近场校准测试方法包括步骤若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。所述相控阵天线的近场校准测试装置包括通道控制模块，用于在探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道。数据获取模块，用于通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。通过本发明所提供的相控阵天线的近场校准测试方法及装置，在对相控阵天线中的各个通道进行测试时，通过对各个通道的控制，消除通道耦合的能量，提高对相控阵天线的近场校准测试精度和收敛速度。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 天线 近场 校准 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种相控阵天线的近场校准测试方法，其特征在于，包括步骤：若探头运行至相控阵天线中任意一个通道的采样点时，关闭除所述任意一个通道以外的全部通道；通过所述探头获取相控阵天线的测试数据。
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