[发明专利]一种微束X射线快速定位与校准装置及其使用方法有效
申请号: | 201710566732.0 | 申请日: | 2017-07-12 |
公开(公告)号: | CN107356619B | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 杨强;曾兵;赖万昌;王传俊;胡青云;葛良全;王广西;李丹;翟娟;敖海麟;刘敏;任科法;程锋 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 11246 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 夏艳<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 610059 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种微束X射线快速定位与校准装置及其使用方法,属于微束X射线定位技术领域,所述的微束X射线快速定位与校准装置,包括X射线阵列探测器(1)、薄片基底(2),X射线阵列探测器(1)设置于薄片基底(2)的底部,薄片基底(2)由基底和表面十字镀层(3)组成,表面十字镀层(3)设置于基底的上部,且表面十字镀层(3)材料为锌。本发明装置提供了焦斑形状信息的实时显示,将不可视的X射线转化为可观察的数字图像,便于存储和记录。本发明还能通过焦斑图像信息,计算得到X射线焦斑焦点中心位置和尺寸。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 快速 定位 校准 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
1.一种微束X射线快速定位与校准装置的使用方法,其特征在于:微束X射线快速定位与校准装置包括X射线阵列探测器(1)、薄片基底(2),X射线阵列探测器(1)设置于薄片基底(2)的底部,薄片基底(2)由基底和表面十字镀层(3)组成,表面十字镀层(3)设置于基底的上部;/n并且微束X射线快速定位与校准装置的使用方法包括以下步骤:/n(1).第一组焦点重合;/n其中,第一组焦点重合包括以下步骤:/n步骤a.将微束X射线快速定位与校准装置安装于X荧光分析仪载物台(7)上,将X光透镜(4)安装于X荧光分析仪载物台(7)的一侧斜上方,使X光透镜(4)与X荧光分析仪载物台(7)之间的角度呈α,将X射线能量探测器(6)安装于X荧光分析仪载物台(7)的另一侧斜上方,使X射线能量探测器(6)与X荧光分析仪载物台(7)之间的角度呈β,将显微镜设置于微束X射线快速定位与校准装置正上方;/n步骤b.将带有十字标尺的显微镜目镜安装于显微镜的观察孔中,选择合适放大倍数的物镜(5),并将其安装在显微镜上,调节X荧光分析仪载物台(7)的高度,直到从目镜中观察到表面十字镀层(3)清晰的像;/n步骤c.使用目镜观察两个十字图像,第一个是目镜十字标尺图像,第二个是表面十字镀层(3)的图像,水平方向调节X荧光分析仪载物台(7),使两个十字图像的交叉中心点重合;/n(2).第二组焦点重合;/n第二组焦点重合包括以下步骤:/n步骤a.开启X射线发生器的电源,开启光管高压;/n步骤b.测量X射线能量探测器(6)输出能谱,并在锌元素K系特征X射线能量为8.64keV位置观察元素峰;/n步骤c.调节X射线能量探测器(6)的角度β,多次重复步骤b,使锌元素K系特征X射线的元素峰面积计数率达到最大值,此时,X射线能量探测器(6)的中心就和表面十字镀层(3)的中心重合,也即和显微镜目镜标尺的中心重合;/n(3).第三组焦点重合;/n第三组焦点重合包括以下步骤:/n步骤a.启动X射线阵列探测器(1),X射线阵列探测器(1)将测量的X射线剂量转换成二维灰度图,即椭圆焦斑灰度图;/n步骤b.采用重心法计算椭圆焦斑灰度图的重心,该重心点就是X光透镜(4)输出X射线的中心,也就是X射线焦斑的中心点;/n步骤c.使X光透镜(4)输出X射线照射到X射线阵列探测器(1)表面,由于镀层对射线的吸收,造成镀层底部,也就是X射线阵列探测器(1)被镀层遮住的部分,没有X射线,在X射线阵列探测器(1)输出的X射线剂量灰度图中,找到镀层的阴影,该阴影的中心就是表面十字镀层(3)的交叉点;/n步骤d.在步骤b和步骤c中能够获得两个焦点,通过图像处理软件能够计算,并得到两个焦点在二维平面上的距离,该距离就是偏差,左右方向偏差记为△x和前后方向偏差记为△y;/n步骤e.根据步骤d获得的偏差,调节X荧光分析仪载物台7在二维平面的位置;/n步骤f.重复步骤a-e,直到步骤d计算的△x偏差、△y偏差均在22μm以内。/n
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