[发明专利]一种粗糙表面微凸体拟合方法和系统有效
| 申请号： | 201710567993.4 | 申请日： | 2017-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN107423497B | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 唐进元;温昱钦;周炜 | 申请（专利权）人： | 中南大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 | 代理人： | 何湘玲 |
| 地址： | 410083 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及粗糙表面形貌拟合领域，公开了一种粗糙表面微凸体拟合方法和系统，以避免采样间距对微凸体参数计算的影响，提高粗糙表面接触分析的准确性。本发明首先计算得到初始拟合参考线，将高于初始拟合参考线的高度序列z(i)划分为至少两个微凸体，采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合，然后计算待分析粗糙表面的表面微凸体参数，并计算得到待分析粗糙表面的表面接触间隙d；结合表面接触间隙d修正初始拟合参考线，根据修正后的拟合参考线重新划分微凸体，并重新采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合以得到单个微凸体的顶峰曲率，从而计算得到粗糙表面的更为精确的表面微凸体参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粗糙 表面 微凸体 拟合 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种粗糙表面微凸体拟合方法，其特征在于，包括：测量待分析粗糙表面的表面轮廓离散点的高度序列记为z(i)，根据所述高度序列z(i)计算得到所述待分析粗糙表面的平均高度线h0作为初始拟合参考线；将高于所述初始拟合参考线的高度序列z(i)划分为至少两个微凸体，得到每个微凸体上的离散点序列坐标；采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合，得到单个微凸体的顶峰曲率，然后计算待分析粗糙表面的表面微凸体参数，其中，所述表面微凸体参数包括粗糙表面所有微凸体的微凸体平均曲率半径、微凸体峰点高度标准偏差以及微凸体密度；通过所述表面微凸体参数结合粗糙表面弹塑性接触模型、接触载荷以及材料参数对所述待分析粗糙表面的接触状态进行计算，得到所述待分析粗糙表面的表面接触间隙d；结合所述表面接触间隙d修正初始拟合参考线，根据修正后的拟合参考线重新划分微凸体，并重新采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合以得到单个微凸体的顶峰曲率，从而计算得到粗糙表面的更为精确的表面微凸体参数。
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