[发明专利]一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201710578355.2 | 申请日： | 2017-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN107678192B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 钱基德;钱基业;陈斌;王佐才;陈刚;吴强;李科;张衡 | 申请（专利权）人： | 中科院成都信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 | 代理人： | 张端阳 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于液晶屏显示缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于机器视觉的Mura缺陷检测方法。所述检测方法包含图像采集、预处理、背景消除、二值化、去噪、缺陷判定等步骤。本发明对比基于高斯混合模型的空间域背景分离法及阴影消除法中计算全局像素平均，该检测方法仅采用局域计算，不需要建立标准，且计算量小；避免了成像过程中光照不均匀的情况下，全局运算带来的误差；具有线性时间复杂度，且鲁棒性好，且参数设计合理人工干预少，效率高，适合于工业检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 机器 视觉 mura 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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