[发明专利]处理器硅前性能评估方法有效
| 申请号： | 201710582643.5 | 申请日： | 2017-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN109271288B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 冯睿鑫;邱吉;宋贵环;刘静宇;余红斌 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/30 | 分类号： | G06F11/30;G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种处理器硅前性能评估方法。所述方法包括：软件生成带有标识核心代码标记的基准测试程序；硬件仿真执行所述基准测试程序，使用硬件监控单元记录所述基准测试程序的运行性能信息；利用所述硬件监控单元记录的所述基准测试程序的运行性能信息还原所述基准测试程序的得分。本发明能够缩短基准测试程序的仿真运行时间，提高处理器硅前性能评估的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器 性能 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种处理器硅前性能评估方法，其特征在于，包括：软件生成带有标识核心代码标记的基准测试程序；硬件仿真执行所述基准测试程序，使用硬件监控单元记录所述基准测试程序的运行性能信息；利用所述硬件监控单元记录的所述基准测试程序的运行性能信息还原所述基准测试程序的得分。
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