[发明专利]半导体元件及其制作方法有效
申请号: | 201710585086.2 | 申请日: | 2017-07-18 |
公开(公告)号: | CN109273442B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 张峰溢;李甫哲 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该制作半导体元件的方法包含,首先形成一第一凹槽于一基底内,然后形成一第一浅沟隔离于第一凹槽内,形成一第一图案化掩模于基底上,再利用第一图案化掩模去除部分第一浅沟隔离以形成一第二凹槽以及去除部分基底形成一第三凹槽,其中第三凹槽下表面低于第二凹槽下表面。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种制作半导体元件的方法,包含:形成一第一凹槽于一基底内;形成一第一浅沟隔离于该第一凹槽内;形成一第一图案化掩模于该基底上;以及利用该第一图案化掩模去除部分该第一浅沟隔离以形成一第二凹槽,以及去除部分该基底形成一第三凹槽,其中该第三凹槽下表面低于该第二凹槽下表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的