[发明专利]位移检测装置在审
| 申请号： | 201710593168.1 | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN107643042A | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 吉谷拓海 | 申请（专利权）人： | 梅莱克塞斯技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 于丽 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供位移检测装置，该移检测装置能够根据检测中的输出值唯一地确定检测对象的位移，并且能够使检测对象的位移范围比传感器能够检测的位移范围宽。位移检测装置(3)具有磁铁(2)，其在位移方向(Ds)进行位移且为棒状，并具有长度方向与位移方向(Ds)成预定角度(θ)的形状；以及传感器(IC1)，其在与位移方向(Ds)正交的x方向及z方向对磁铁(2)形成的磁场的磁通密度进行检测，输出与检测出的磁场成比例的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种位移检测装置，具有：磁铁，其在一个方向进行位移且为棒状，并具有长度方向与所述一个方向成预定角度的形状；以及传感器，其至少在与所述一个方向和所述磁铁的磁化方向正交的方向对所述磁铁形成的磁场的磁通密度进行检测，输出与检测出的磁场成比例的信号。
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