[发明专利]一种测试标片制作方法及测试标片

摘要

本发明涉及晶体硅太阳能电池制造领域，尤其涉及一种测试标片制作方法及测试标片。其中，测试标片制作方法包括：对硅片的双面进行制绒；对硅片的正面进行扩散；对硅片的双面进行边缘刻蚀；在硅片的正面印刷细栅；对硅片进行一次烧结；对硅片的正面镀减反膜；在硅片的背面印刷背极；在硅片的背面印刷背场；在硅片的正面印刷主栅；对硅片进行二次烧结。通过在镀减反膜之前先进行细栅的印刷和一次烧结，在镀减反膜之后进行主栅的印刷和二次烧结，测试标片在使用的过程中能够减少细栅与外界氧气的接触，避免细栅的磨损，从而降低测试标片在使用过程中的衰减，延长测试标片的使用寿命。

主权项

1.一种测试标片制作方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤A：对硅片(1)的双面进行制绒；步骤B：对步骤A处理后的硅片(1)的正面进行扩散；步骤C：对步骤B处理后的硅片(1)的双面进行边缘刻蚀；步骤D：在步骤C处理后的硅片(1)的正面印刷细栅(1)；步骤E：对步骤D处理后的硅片(1)进行一次烧结；步骤F：对步骤E处理后的硅片(1)的正面镀减反膜(2)；步骤G：在步骤F处理后的硅片(1)的背面印刷背极；步骤H：在步骤G处理后的硅片(1)的背面印刷背场；步骤I：在步骤H处理后的硅片(1)的正面印刷主栅(3)；步骤J：对步骤I处理后的硅片(1)进行二次烧结。