[发明专利]测试结构、阵列基板和显示装置有效
| 申请号： | 201710595983.1 | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN107393904B | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 王晶;胡凌霄;王书锋 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544;H01L27/12 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试结构，包括多个测试电容，每个测试电容包括至少部分交叠、且绝缘间隔的两层测试电极，多个测试电容围成环形结构，任意相邻两个测试电容中，其中一个测试电容的一个测试电极与另一个测试电容的一个测试电极电连接，且该两个测试电容中，相连的两个测试电极的连接处设置有插孔，用于插入测试针。相应地，本发明还提供一种阵列基板和显示装置。本发明能够提高对显示区的电容检测的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 阵列 显示装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试结构，其特征在于，包括多个测试电容，每个测试电容包括至少部分交叠、且绝缘间隔的两层测试电极，多个测试电容围成环形结构，任意相邻两个测试电容中，其中一个测试电容的一个测试电极与另一个测试电容的一个测试电极电连接，且该两个测试电容中，相连的两个测试电极的连接处设置有插孔，用于插入测试针。
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