[发明专利]集成电路芯片及其检查方法有效
| 申请号： | 201710599260.9 | 申请日： | 2017-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN109144024B | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 江伟山 | 申请（专利权）人： | 力晶积成电子制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王珊珊 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 集成电路芯片及其检查方法。集成电路芯片的目标电路产生目标信号。集成电路芯片的转换检测电路在初始化期间检测目标信号的转换，以产生转换检测结果。依据转换检测结果判断目标电路的初始化是否正常。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 及其 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路芯片的检查方法，包括：由所述集成电路芯片的一目标电路产生一目标信号；由所述集成电路芯片的一转换检测电路在一初始化期间检测所述目标信号的转换，以产生一转换检测结果；以及依据所述转换检测结果判断所述目标电路的初始化是否正常。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力晶积成电子制造股份有限公司，未经力晶积成电子制造股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710599260.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种工业控制系统的安全检测方法和设备
- 下一篇：故障预测装置以及机器学习装置
