[发明专利]隐埋N型沟道的碳化硅功率器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710604094.7 申请日: 2017-07-21
公开(公告)号: CN107482052B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 刘刚;苗青;张瑜洁;李昀佶;何佳;陈彤 申请(专利权)人: 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L21/328;H01L21/334
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 100192 北京市海淀区清河*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种隐埋N型沟道的碳化硅功率器件及其制造方法,通过改变沟道内结构,从而改善电场分布,保护器件,防止器件在高压环境下过热而过早的击穿,起到提高碳化硅功率器件稳定性与可靠性的作用。该隐埋N型沟道的碳化硅功率器件包括:设置在最下方的背面金属接触,设置在背面金属接触的上方的碳化硅衬底,设置在碳化硅衬底的上方的碳化硅外延层,设置在碳化硅外延层中的有源注入区、JTE注入区以及N型隐埋沟道,其中,有源注入区和JTE注入区分别沿器件的中心线对称分布,JTE注入区设置在有源注入区的外侧,N型隐埋沟道设置在有源注入区的主结的下方,设置在碳化硅外延层上方的氧化物钝化层和表面金属接触。
搜索关键词: 隐埋 沟道 碳化硅 功率 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种隐埋N型沟道的碳化硅功率器件,其特征在于,包括:设置在最下方的背面金属接触,设置在所述背面金属接触的上方的碳化硅衬底,设置在所述碳化硅衬底的上方的碳化硅外延层,设置在所述碳化硅外延层中的有源注入区、JTE注入区以及N型隐埋沟道,其中,所述有源注入区和所述JTE注入区分别沿器件的中心线对称分布,所述JTE注入区设置在所述有源注入区的外侧,所述N型隐埋沟道设置在有源注入区的主结的下方,设置在所述碳化硅外延层上方的氧化物钝化层和表面金属接触。
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