[发明专利]一种激光扫描测量系统目标自动照准方法在审

专利信息
申请号: 201710622811.9 申请日: 2017-07-27
公开(公告)号: CN107356202A 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 劳达宝;周维虎;江炜;纪荣祎;张滋黎;董登峰;王国名;袁江;程智;吴广华;崔成君 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 代理人: 安丽
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种激光扫描测量系统目标自动照准方法,其采用图像处理算法得到的十字丝与目标中心坐标在像素坐标系下水平角,并根据像素坐标系与测量坐标系角度偏移比例关系计算出十字丝中心与目标中心的水平角偏移量,最后根据得到的偏移量,可以设置激光扫描测量系统的水平角旋转到目标点位置。该方法采用自动照准的方法测量被测目标坐标,能够实现对多个被测目标不同时期的坐标值进行测量,具有测量效率高,操作简单,测量结果精度高等特点。
搜索关键词: 一种 激光 扫描 测量 系统 目标 自动 照准 方法
【主权项】:
一种激光扫描测量系统目标自动照准方法,包括下列步骤:步骤1:激光扫描测量系统照准被测目标,利用激光扫描测量系统中的相机获取十字丝与被测目标的图像,根据图像处理的方法计算得到被测目标在像素坐标系下的像素坐标的水平坐标分量为a1,同时测量得到被测目标在测量坐标系下的水平坐标分量为a2;步骤2:转动激光扫描测量系统,再次测量得到被测目标的水平像素坐标分量与测量坐标分量为b1,b2;步骤3:根据步骤1和步骤2测量得到的像素坐标系与测量坐标系下的角度偏移分量,计算出被测目标的像素偏移量α与坐标偏移量γ以及二者的比值β为:α=a1‑b1  (1)γ=a2‑b2  (2)β=a1-b1a2-b2=αγ---(3)]]>步骤4:测量时,根据步骤1和步骤2测量获得被测目标的像素坐标分量,通过公式(1)计算得到被测目标的像素偏移量α,用像素偏移量除以β即求得被测目标的坐标偏移量γ。
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