[发明专利]一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法有效
申请号: | 201710624869.7 | 申请日: | 2017-07-27 |
公开(公告)号: | CN107543970B | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 殷勇;谢科涵;周文;蒙林;王彬;李海龙 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 51203 电子科技大学专利中心 | 代理人: | 甘茂 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于介电常数测量技术领域,提供一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法,用于同轴结构介质材料的测量;本发明采用三段式同轴夹具,包括左段夹具、中段夹具及右段夹具,均用于填充待测介质,其连接方式为:左段夹具与右段夹具连接、或者左段夹具、中段夹具、右段夹具依次连接;首先,采用多个样本介质材料建立数据库;然后将填充待测介质材料后的左段夹具与右段夹具连接,测得S参数,并确定夹具参数;最后将填充待测介质材料后三段夹具依次连接,测得S参数,并通过夹具去嵌入处理,使其校准端面位于待测样本内部,精确测量的待测介质材料介电常数。本发明具有低成本、操作简便、装配要求较低、具有较高精度等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 数据库 校准 方法 介电常数 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法,其特征在于,采用三段式同轴夹具,包括左段夹具、中段夹具及右段夹具,均用于填充待测介质;具体包括以下步骤:/n步骤1.建立数据库:将N个样品介质材料分别填充至左段夹具和右段夹具,通过电磁仿真软件分别测得左段夹具和右段夹具的S参数:/n左段夹具S
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