[发明专利]一种基于稀土玻璃费尔德系数光谱测量系统的测量方法在审

专利信息
申请号: 201710636082.2 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN109324021A 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 卢平 申请(专利权)人: 苏州润桐专利运营有限公司
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 代理人: 赵丽丽
地址: 215600 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种基于稀土玻璃费尔德系数光谱测量系统的测量方法,主要解决现有技术中存在的测量灵敏度低、测量准确度低的技术问题,本发明所述系统包括线偏振光产生器待测稀土玻璃,双折射晶体,检偏器,自聚焦透镜,与自聚焦透镜连接的光谱仪,与光谱仪连接的上位机;待测稀土玻璃两侧分别设有可变间距电磁铁的两端极,可变间距电磁铁受控于直流电源,可变间距电磁铁两端极间还设有磁场强度测量装置;较好的解决了该问题,可用于稀土玻璃费尔德系数测量中。
搜索关键词: 稀土玻璃 电磁铁 可变 测量 光谱测量系统 自聚焦透镜 光谱仪 磁场强度测量 线偏振光产生 双折射晶体 准确度 系数测量 直流电源 检偏器 灵敏度 上位机 可用 受控
【主权项】:
1.一种基于稀土玻璃费尔德系数光谱测量系统的测量方法,其特征在于:所述测量方法包括:(1)将待测稀土玻璃(104)置于可变间距电磁铁(201)中,通过直流电源(202)为电磁铁供电,用高斯计(204)测量磁场强度B;(2)打开线偏振光产生器,线偏振光经过稀土玻璃后的光偏振方向发生改变,通过光谱仪(108)可直接得到光谱干涉条纹,对该干涉条纹进行傅里叶变换就可以得到干涉条纹的交流项、直流项以及晶体中两路光之间的光程差,根据得到该磁场强度下的法拉第转角,通过:θ=VBL,得到待测稀土玻璃(104)的费尔德常数;(3)改变直流电源(202)的电压值大小使稀土玻璃所处磁场大小改变,重复步骤(1)及步骤(2),通过至少两次测量,求平均值得到费尔德常数测量值。
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