[发明专利]分光测定装置有效
| 申请号： | 201710640422.9 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107870037B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 白岩久志 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/04 | 分类号： | G01J3/04;G01N21/01;G02B5/02 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;朴秀玉 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能减少由光纤的弯曲所产生的测定误差并且提高供给至分光测定部的光的光量的分光测定装置。分光测定装置具备：分光测定部，对通过狭缝射入的光进行分光测定；以及光漫射单元，使从多个光纤供给的光漫射，以漫射后的光直接或者经由透镜或反射镜射入所述狭缝的方式相对于所述狭缝进行物理固定。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种分光测定装置，具备：分光测定部，对通过狭缝射入的光进行分光测定；以及光漫射单元，使从多个光纤供给的光漫射，以漫射后的光直接或者经由透镜或反射镜射入所述狭缝的方式相对于所述狭缝进行物理固定。
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