[发明专利]一种扩散膜遮瑕性的测试方法在审
| 申请号： | 201710642755.5 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107271153A | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 赖春桃;周福新;林文峰 | 申请（专利权）人： | 信利半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人： | 邓义华,廖苑滨 |
| 地址： | 516600 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种扩散膜遮瑕性的测试方法，包括以下步骤S1.制作雾度卡在透明基材上丝印若干个矩阵排列的图案，所述图案包括若干横排及若干竖排，各横排之间的图案大小不同，各横排还设有表示该图案等级的标记；S2.将上述雾度卡置于平面光源上，所述平面光源在雾度卡的下方照射雾度卡；S3.将所需测试的扩散膜置于雾度卡上；S4观察扩散膜上所能看到的图案，根据所能观察到的最小的图案对应的标记即为该扩散膜的遮瑕水平。本发明通过观察扩散膜上所能看到的图案，根据所能观察到的最小的图案对应的标记即可测试扩散膜的遮瑕性，测试方便快速，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扩散 膜遮瑕性 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种扩散膜遮瑕性的测试方法，其特征在于，其包括以下步骤：S1.制作雾度卡：在透明基材上丝印若干个矩阵排列的图案，所述图案包括若干横排及若干竖排，各横排之间的图案大小不同，各横排还设有表示该图案等级的标记；S2.将上述雾度卡置于平面光源上，所述平面光源在雾度卡的下方照射雾度卡；S3.将所需测试的扩散膜置于雾度卡上；S4：观察扩散膜上所能看到的图案，根据所能观察到的最小的图案对应的标记即为该扩散膜的遮瑕水平。
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