[发明专利]一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法有效

专利信息
申请号: 201710645684.4 申请日: 2017-08-01
公开(公告)号: CN107643476B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 李龙飞;丁美宙;刘欢;李春光;顾亮;李全胜;王海滨;孙觅 申请(专利权)人: 河南中烟工业有限责任公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 时立新
地址: 450000 河南*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:A、利用虚拟仪器软件LabVIEW存储测试对象属性信息;B、配置相应测试通道,并利用虚拟仪器软件LabVIEW控制测试通道的通断切换;C、使用PXI数字万用表卡依次对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆以及终端匹配电阻的阻抗信息进行数字化测量;D、获取稳态阻抗信息存储至虚拟仪器软件LabVIEW的数据库中;E、在虚拟仪器软件LabVIEW的显示界面实时显示测试对象的稳态阻抗信息和预警信息。本发明实现了Profibus总线绝缘性能测试过程的高度自动化,有效提高了测试精度,减少了人工劳动成本。
搜索关键词: 一种 基于 虚拟仪器 技术 profibus 总线 绝缘 性能 测试 方法
【主权项】:
一种基于虚拟仪器技术的Profibus总线绝缘性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:A、记录待测总线信息:统计所有待测工业Profibus总线线缆所属工厂、车间、生产线类型、设备、总线类型以及位置编号属性信息,并将上述属性信息录入安装虚拟仪器软件LabVIEW的PXI工控机内,利用虚拟仪器软件LabVIEW存储测试对象属性信息;B、配置相应测试通道:选择一条待测工业Profibus总线线缆作为测试对象接入PXI工控机的测试接口,针对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆和终端匹配电阻,分别配置相应的测试通道,并利用虚拟仪器软件LabVIEW控制测试通道的通断切换;C、配置数字万用表卡:将PXI数字万用表卡接入PXI工控机并连接测试通道,通过虚拟仪器软件LabVIEW实现PXI数字万用表卡的参数配置、初始化和数据采集,使PXI数字万用表卡依次对测试对象的绝缘层、高电平线缆、低电平线缆以及终端匹配电阻的阻抗信息进行数字化测量;D、获取稳态阻抗信息:对PXI数字万用表卡的测量数据进行预判,截取稳态有效数据进行加权处理,获得测试对象的稳态阻抗信息,将其存储至虚拟仪器软件LabVIEW的数据库中;E、显示测试预警信息:根据测试对象的稳态阻抗信息,分析测试对象的绝缘性能并生成预警信息,对应测试对象的属性信息,在虚拟仪器软件LabVIEW的显示界面实时显示测试对象的稳态阻抗信息和预警信息。
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