[发明专利]单键开关寿命测试机在审

专利信息
申请号: 201710654447.4 申请日: 2017-08-03
公开(公告)号: CN107478984A 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 吴义;王大庆 申请(专利权)人: 江苏博悦物联网技术有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01M13/00
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 代理人: 郭栋梁
地址: 226300 江苏省南通市通州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种单键开关寿命测试机,包括机架内设有电机以及与电机相连的转轴,转轴上连接有至少两个直线往复机构,转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板,测头安装板上设置有一个安装孔,安装孔内安装一根测试头,测试头与测试孔螺纹连接,测试头正对测试工位,测试台上设有供直线往复机构直线移动的第一导向孔;机架上还设有计数器以及与计数器相连的行程开关。本发明提供的单键开关寿命测试机,通过电机驱动相应的升降机构,带动与升降机构相连的按压机构按压放置在测试工位处的待测开关的按键。本发明采用机械式的驱动方式,结构简单,按压力度稳定,噪音低、能耗低。
搜索关键词: 单键 开关 寿命 测试
【主权项】:
一种单键开关寿命测试机,其特征在于,包括:机架和设置在所述机架上的测试台,所述测试台的表面设有用于放置待测开关的测试工位;所述机架内设有电机以及与所述电机相连的转轴,所述转轴上连接有至少两个直线往复机构,所述转轴经其连接的直线往复机构连接测头安装板,所述测头安装板上设置有一个安装孔,所述安装孔内安装一根测试头,所述测试头与所述测试孔螺纹连接,所述测试头正对所述测试工位,所述测试台上设有供所述直线往复机构直线移动的第一导向孔;所述机架上还设有计数器以及与所述计数器相连的行程开关。
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