[发明专利]用于激光制样‑质谱氧同位素组成分析的激光池装置在审

专利信息
申请号: 201710656379.5 申请日: 2017-08-03
公开(公告)号: CN107449651A 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 石晓;刘汉彬;张建锋;金贵善;李军杰;韩娟;张佳 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N1/34 分类号: G01N1/34;G01N1/44;G01N27/62
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 闫兆梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于一种激光池装置,具体公开一种用于激光制样‑质谱氧同位素组成分析的激光池装置,该装置包括激光窗上法兰、激光窗、激光腔上腔体、第一真空管路、第二真空管路、样品池、激光腔下腔体和激光池底座,激光腔上腔体上方设有激光窗上法兰,激光腔上腔体与激光窗上法兰之间设有激光窗,第一真空管路、第二真空管路对称设在激光腔上腔体两侧,激光腔上腔体下方设有激光腔下腔体,激光腔下腔体下部内放置样品池,激光腔下腔体底部放置在激光池底座上。本发明的激光池装置够快速提取微量矿物中氧同位素,还能对整个激光池的真空度实现快速达标、且方便拆卸。
搜索关键词: 用于 激光 质谱氧 同位素 组成 分析 装置
【主权项】:
用于激光制样‑质谱氧同位素组成分析的激光池装置,其特征在于:该装置包括激光窗上法兰(2)、激光窗(4)、激光腔上腔体(6)、第一真空管路(7)、第二真空管路(8)、样品池(12)、激光腔下腔体(13)和激光池底座(15),激光腔上腔体(6)上方设有激光窗上法兰(2),激光腔上腔体(6)与激光窗上法兰(2)之间设有激光窗(4),第一真空管路(7)、第二真空管路(8)对称设在激光腔上腔体(6)两侧,激光腔上腔体(6)下方设有激光腔下腔体(13),激光腔下腔体(13)下部内放置样品池(12),激光腔下腔体(13)底部放置在激光池底座(15)上。
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