[发明专利]一种微缺陷太阳电池组件热斑温度计算的方法

摘要

本发明公开了一种微缺陷太阳电池组件热斑温度计算的方法，具体为，选择微缺陷电池片，并将其分为点缺陷、线缺陷、面缺陷分别组装在组件中；将微缺陷电池片进行不同比例的遮挡，产生热斑效应；计算微缺陷电池片的温度。本发明可以快速对光伏组件热斑温度进行计算与预测，节省时间，有助于对组件的及时维护与检修，最终提高经济收益。

主权项

1.一种微缺陷太阳电池组件热斑温度计算的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)选择缺陷类型为点缺陷、线缺陷、面缺陷的微缺陷电池片各一片，然后分别组装在组件中，一个组件中包含一种缺陷类型；2)将每个组件中的微缺陷电池片进行不同比例的遮挡，产生热斑效应；3)计算产生热斑效应的微缺陷电池片的温度，计算式为：P₁＝V_r*I_sh，P₂＝V_r*I_re，其中，T_热斑为产生热斑效应的微缺陷电池片的温度，T_a为环境温度，I_rad为辐射，K、K₁、K₂均为常数系数，P₁为遮挡产生的功率，A₁为微缺陷电池片被遮挡的面积，P₂为缺陷产生的功率，A₂为缺陷的面积，V_r为微缺陷电池片两端反偏电压，I_sh为微缺陷电池片的光生电流，I_re为微缺陷电池片的反偏漏电流。