[发明专利]批量移载微细元件的方法及其装置有效
申请号: | 201710675244.3 | 申请日: | 2017-08-09 |
公开(公告)号: | CN109390267B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 吴智孟 | 申请(专利权)人: | 创新服务股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L33/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 肖平安 |
地址: | 中国台湾台中市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种批量移载微细元件的方法及其装置,先将多个探针呈阵列载设于一移载单元上,让探针的针头伸出移载单元底部,该移载单元内部设有一温控流道,导入热水到温控流道中使探针温度提高,然后驱动移载单元使针头沾润一接着材料,再导入冷水至温控流道中,以对探针进行降温,促使接着材料暂时附着于针头上,接着,将移载单元位移至多个微细元件上方,并下压借着接着材料以批量沾黏微细元件,最后将该移载单元位移至一基板上方,并再次加温使得接着材料热熔后流至该基板上,并控制基板在低温,使接着材料凝结在微细元件与基板之间,即完成转移,从而本发明具有生产快速、可提升产量及降低制造成本的特点。 | ||
搜索关键词: | 批量 微细 元件 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1.一种批量移载微细元件的方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤A:将多个探针呈阵列排列载设于一移载单元上,并且让各探针的针头穿伸出该移载单元的底部;步骤B:该移载单元内含一温控流道,借由导入热水到温控流道中,使探针温度提高;步骤C:驱动该移载单元使探针的针头沾润上一接着材料;步骤D:再导入冷水至温控流道中,对各探针进行降温动作,以促使该接着材料附着于该探针针头上;步骤E:再将该移载单元位移至多个微细元件上方,使每一探针对准微细元件并下压,借着针尖上的接着材料而批量沾附各微细元件;步骤F:最后将该移载单元位移至目标基板上方,将微细元件对准要放置的位置并下压;步骤G:在下压的状况下,再次进行加温动作,使得接着材料热熔后流至该基板上,并控制基板在低温,使接着材料凝结在微细元件与基板之间,即完成转移。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于创新服务股份有限公司,未经创新服务股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710675244.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造