[发明专利]激光诱导的跨尺度光刻方法有效
申请号: | 201710678161.X | 申请日: | 2017-08-10 |
公开(公告)号: | CN107390476B | 公开(公告)日: | 2018-10-02 |
发明(设计)人: | 魏劲松;魏涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;B82Y40/00 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于激光诱导跨尺度光刻方法,当准直的激光束聚焦到光刻材料时,通过调节激光能量及刻写速度从而改变相变热阈值效应及热扩散,得到从纳米尺度到微米尺度可变的多尺度结构,并且该结构一次形成。本发明简单实用,不需要复杂的操作,特别适用于制作具有不同线宽(从纳米尺度到微米尺度)的掩膜版。可替代半导体工业中的掩膜套刻曝光工艺,从而避免了多次套刻引起的图形误差。 | ||
搜索关键词: | 激光 诱导 尺度 光刻 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于激光诱导跨尺度的光刻方法,其特征在于该方法包括以下步骤:1)在基片(1)上用磁控溅射的方法镀上一层AgInSbTe相变薄膜(2),该相变薄膜(2)具有相变热阈值效应及热扩散特征,得到镀膜样品;2)利用激光直写系统对所述的镀膜样品进行辐照,通过调节激光功率密度和刻写速度,改变到达所述的相变薄膜(2)上的聚焦光斑(3)的能量,从而调控相变热阈值区域(4)得到纳米尺度结构;调控热扩散区域(5)得到微米尺度结构,实现跨尺度光刻,得到光刻样品;3)对所述的光刻样品置于硫化铵水溶液、四甲基氢氧化铵溶液或氢氧化钾溶液中进行湿法显影,以获得从微米到纳米尺度连续变化的跨尺度微纳结构。
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