[发明专利]一种用于X射线衍射原位测试的窗口材料及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201710685755.3 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN107487064A 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 赵金保;谢东权;黄晶鑫 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: B32B37/12 分类号: B32B37/12;B32B7/12;B32B15/20;B32B15/08;B32B15/085;B32B15/088;G01N23/20
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙)35200 代理人: 马应森,戴深峻
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种用于X射线衍射原位测试的窗口材料及其制造方法,涉及电池,窗口材料为包含高分子材料层和金属材料层的多层结构复合膜,在XRD原位测试中不会被测物的XRD峰产生较大干扰,具备优良的密封性能,不仅可以防止电解液的挥发,还具备优良的水气阻隔性能。高分子材料层的存在能有效防止电解液的挥发,还为窗口材料提供良好的柔韧性;金属材料层的存在不仅为窗口材料提供较好的机械强度,还大大增加了复合膜阻隔性能,特别是水气阻隔性能。另外,窗口材料的制造方法简单方便,与塑料包装膜制造工艺相似,有利于工厂规模化生产。
搜索关键词: 一种 用于 射线 衍射 原位 测试 窗口 材料 及其 制造 方法
【主权项】:
一种用于X射线衍射原位测试的窗口材料,其特征在于为由高分子材料层和金属材料层组成的多层结构复合膜。
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