[发明专利]一种电子电路的测试装置在审
| 申请号： | 201710687400.8 | 申请日： | 2017-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN107505481A | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘长蕊 | 申请（专利权）人： | 纳恩博（天津）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 301701 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种电子电路的测试装置，属于电路测试领域，包括控制电路、时钟源电路、驱动电路和测试电路，所述控制电路分别与所述时钟源电路和所述驱动电路连接，所述控制电路用于根据控制信号向所述驱动电路发送驱动信号，进而驱动所述测试电路对电子电路的性能进行测试，所述时钟源电路用于为所述控制电路提供外部时钟，使所述控制电路驱动所述驱动电路改变所述测试电路与所述电子电路的连接关系，以完成对所述电子电路的不同性能的测试。本发明实施例的电子电路的测试装置，以控制电路代替了手动切换测试开关，避免了测试过程中人为因素的影响，且对多个性能进行连续测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种电子电路的测试装置，其特征在于，包括：控制电路、时钟源电路、驱动电路和测试电路，所述控制电路分别与所述时钟源电路和所述驱动电路连接，所述控制电路用于根据控制信号向所述驱动电路发送驱动信号，进而驱动所述测试电路对电子电路的性能进行测试，所述时钟源电路用于为所述控制电路提供外部时钟，使所述控制电路驱动所述驱动电路改变所述测试电路与所述电子电路的连接关系，以完成对所述电子电路的不同性能的测试。
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